电路板的表面绝缘电阻测量
SIR (Surface Insulation Resistance) 通常用来作电路板的信赖性试验,其方法为在印刷电路板()上将成对的电极交错连接成梳形电路(Pattern),并印上锡膏,然后在一定高温高湿的环境下持续地给予一定偏压(BIAS VOLTAGE),经过一定长时间的试验(24H,48H,96H,168H) 观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。
这个试验也有助看出助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否有残留任何会影响电子零件电气特性的物质。 一般我们使用这个方法来量测静态的表面绝缘电阻(SIR)与动态的离子迁移现象(ION MIGRATION),另外,它也可以拿来作 CAF(Conductive Anodic Filament,导电性细丝物,阳极性玻纤纤维之漏电现象)试验。
注:CAF主要在测试助焊剂对PCB板吸湿性及玻璃纤维表面分离的影响。
表面绝缘电阻(SIR)被广泛用来评估污染物对组装件可靠度的影响。 跟其他方法相比,SIR的优点除了可侦测局部的污染外,也可以测得离子及非离子污染物对印刷电路板(PCB)可靠度的影响,其效果远比其他方法(如清洁度试验、铬酸银试验... 等)来的有效及方便。
大发快盈500 由于现在的电路板布线越来越密,焊点与焊点也越来越近,所以这项实验也可作为锡膏助焊剂的可用性评估参考。
Comb Pattern,梳形电路是一种「多指状」互相交错的密集线路图形,可用在板面清洁度、绿漆绝缘性等进行高电压测试的一种特殊线路图形。
SIR 量测标准:IPC-TM-650
▼SIR实验用的测试板,一片板子有四组成对的电极交错连接成梳形图案(Pattern)
▼单独把一组SIR实验用成对的电极交错连接成梳形图案(Pattern)放大图
量测SIR时要在梳形图案(Pattern)上印上锡膏,然后垂直放入已印有锡膏的SIR测试板并置于环境试验机中,还要在其正、负极加上 45~50VDC 的偏压,环境实验的条件如下:
大发快盈500 85+/-2℃ + 20%RH 3小时
↓ 至少15分钟
85+/-2℃ + 85%RH 至少1小时后开始加 50VDC 偏压
↓ 24小时后用 100VDC 量测 SIR 值
↓ 再24小时后用 100VDC 再量测 SIR 值 (共48小时)
↓ 再48小时后用 100VDC 再量测 SIR 值 (共96小时)
大发快盈500 ↓ 再96小时后用 100VDC 再量测 SIR 值 (共168小时)
每隔一段时间纪录SIR的变化。