印刷电路板性能测试服务 UL台湾新实验室成立
UL于台北的印刷电路板性能测试服务实验室日前正式开幕,配合广受业界肯定的UL746及UL796的安全认证,为当地印刷电路板上下游提供更完整的产品规范测试及检测服务。
随着人类生活的全面电子化,不论是玩具、汽车、手机、网路、云端伺服器、乃至于穿戴装置与随身医疗配件,印刷电路板都是产品内不可缺少的零件,带着重要的角色,这也使得中国的飞速的发展。为配合产业发展,UL选择于台湾印刷电路板制造业的重镇,发展最新印刷电路板性能测试服务实验室,主要提供三项可靠度与性能测试服务,包括CAF阳极玻纤纱电化学迁移成长及IST互连应力试验两项可靠度试验,与针对讯号完整性的SET2DIL单端阻抗讯号损失试验性能测试。
CAF是针对电路板在长期使用下的绝缘可靠度试验,向来是须有高可靠度要求的终端产品客户,如伺服器、汽车电子及医疗电子产业,对印刷电路板及其材料能力的重点评估项目。UL台湾的CAF试验偏压最高可提供到1000VDC,可满足绝大部分制造商的测试需求。
IST提供一个快速检验电路板导通性能长期可靠度试验方法,此方法可以缩短传统温度循环测试时间过长的问题。透过专用测试板及客制化的测试板设计,可快速提供电路板对导通性能的检测,以利客户认证与制程改善检验。
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SET2DIL/Delta-L是Intel主导的测试方法,针对讯号完整性要求高的电路板,进行高频讯号性能测试。是针对PWB制程与材料评估的重要测试。
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UL电子科技产业大中华区工程部总监蔡英哲指出,现今电路板设计追求高品质、高密度、高速应用,而UL是唯一可涵盖物性、化性及电性的全方位实验室;加上提供测试前谘询与设计辅导,以及测试后的失效分析找出关键问题根源,有助制造商优化产品,在竞争市场中成为焦点。
UL台湾性能实验室的成立象征进一步提升电路板产业的整体竞争力,将各种资源做到最充分的整合及发挥,让台湾电路板产业可以在地完成国际认同的检验测试。未来UL也会持续关注市场发展,逐步扩充其他印刷电路板性能测试项目。